demura原理介绍？

　　demura原理

　　由于晶化工艺的局限性，在大面积玻璃基板上制作的LTPS TFT，不同位置的TFT常常在诸如阈值电压、迁移率等电学参数上具有非均匀性，这种非均匀性会转化为OLED显示器件的电流差异和亮度差异，并被人眼所感知，即Mura现象。Mura一词源于日本，原意指亮暗不均，后扩展至面板上任何人眼可识别的颜色差异。

　　为了使显示效果稳定，需要采取补偿方式，有内部补偿和外部补偿两种方式。

　　外部补偿根据数据抽取方法的不同又可以分为光学抽取式和电学抽取式。光学抽取式是指将背板点亮后通过光学CCD照相的方法将亮度信号抽取出来，电学抽取式是指通过驱动芯片的感应电路将TFT和OLED的电学信号抽取出来。两种方法抽取的信号种类不同，因此数据处理的方式也不同。光学抽取的方式具有结构简单，方法灵活的优点，因此在现阶段被广泛采用，即为我们平时所说的De-Mura。

　　demura补偿:

　　面板机构/制程等原因所发生的亮度偏差（mura）进行补偿，使画面变得更加均匀的方法，获取面板的各个pixel亮度信息来计算补偿值，将此值加到原始影像中（或是乘法）来去除亮度偏差。

　　demura算法？

　　1：: demura算法是一种用于评估风险和决策的数学方法。

　　: demura算法使用统计模型和概率理论来分析数据，以确定风险和决策的概率。

　　: demura算法最初用于评估软件开发项目的进度和质量，但现在也广泛应用于其他领域，如金融、医疗等，以帮助做出更准确的决策和风险评估。

　　为了消除MURA，本领域现阶段采用的DeMURA方法包括以下几个步骤：

　　1)利用高分辨率相机采集不同灰阶下OLED屏的亮度(专利申请号202210608731.2)，并去除摩尔纹；

　　2)利用灰阶与实际灰度之间的关系构建DeMURA表(专利申请号202211563176.2)；

　　3)对DeMURA表做压缩，并烧录到IC存储中(专利申请号202210272063.0)；

　　4)在IC端通过解压对每个发光单元做实时调整。

　　上述方法存在的问题是：1)高分辨率相机在提取不同类型的OLED屏时，采集内容不变，即RGB三个单元的亮度，但采集的对象会随着结构不同而发生变化，RGB的排列方式有多种，在显示过程中，不同的排列方式呈现出的效果不同，在不同的效果下，高分辨率相机能否完美还原人眼观察的效果，这里并不确定；2)多灰阶输入与输出的模型构建方向，现阶段采用的是分段插值方式，这里存在一个假设，即每段的模型是一致的，但实际过程中会有较大的差异，而做256阶的遍历又会极大降低整个DeMURA过程的效率，如何平衡这个矛盾，现阶段还没有比较好的方法；3)由于分段模型会引入误差，且原流程仅考虑了单个发光单元的误差调整，并没有考虑到发光单元间的空间误差累积，即如果空间上相邻区域的发光单元调整误差较大，就会形成较大的误差区域而造成调整后的MURA，且生成的该部分MURA有可能是屏幕不具备的，也就是说DeMURA以后的效果可能会更差。