怎样用数字万用表测量晶闸管的好坏？

　　1、使用数字万用表检查可控硅数字万用表拨至二极管挡，红表笔接某一电极，黑表笔分别 接触另外两个电极。如果其中有一次显示电压为零点几伏， 则此时红表笔接的是控制极G，黑表笔接的是阴极K，余下 的则是阳极A。假如两次都显示溢出，说明红表笔接的不是 控制极，需更换电极重测。测试可控硅的触发能力数字万用 PNP挡，此时 hFE 插口上的两个 带负电，电压为2.8V。可控硅的三个电极各用一根导线引出，阳极A、阴极K 引线分别插人E 孔，控制极G悬空。 此时可控硅关断，阳极电流为零，将显示 000。把控制极 插人另一个E孔。显示值将从000 开始迅速增加，直到显示 溢出符号后，立即又变成 000，然后再次从 000 变到溢出， 这样周而复始。采用此法可确定可控硅的触发是否可靠。但 这样的测试由于电流较大，应尽量缩短测试时间。必要时也可在可控硅的阳极上串一只几百欧的保护电阻。如果使用 NPN 挡，可控硅阳极A 应接C 孔，阴极K 孔，以保证所加的是正向电压。拓展资料：一、可控硅：可控硅(Silicon Controlled Rectifier) 简称SCR，是一种大功率电器元件，也称晶闸管。它具有体积小、效率高、寿命长等优点。在自动控制系统中，可作为大功率驱动器件，实现用小功率控件控制大功率设备。它在交直流电机调速系统、调功系统及随动系统中得到了广泛的应用。可控硅分单向可控硅和双向可控硅两种。双向可控硅也叫三端双向可控硅，简称TRIAC。双向可控硅在结构上相当于两个单向可控硅反向连接，这种可控硅具有双向导通功能。其通断状态由控制极G决定。在控制极G上加正脉冲(或负脉冲)可使其正向(或反向)导通。这种装置的优点是控制电路简单，没有反向耐压问题，因此特别适合做交流无触点开关使用。二、测量方法：鉴别可控硅三个极的方法很简单，根据P-N结的原理，只要用万用表测量一下三个极之间的电阻值就可以。阳极与阴极之间的正向和反向电阻在几百千欧以上，阳极和控制极之间的正向和反向电阻在几百千欧以上（它们之间有两个P-N结，而且方向相反，因此阳极和控制极正反向都不通） [1] 。控制极与阴极之间是一个P-N结，因此它的正向电阻大约在几欧-几百欧的范围，反向电阻比正向电阻要大。可是控制极二极管特性是不太理想的，反向不是完全呈阻断状态的，可以有比较大的电流通过，因此，有时测得控制极反向电阻比较小，并不能说明控制极特性不好。另外，在测量控制极正反向电阻时，万用表应放在R*10或R*1挡，防止电压过高控制极反向击穿。若测得元件阴阳极正反向已短路，或阳极与控制极短路，或控制极与阴极反向短路，或控制极与阴极断路，说明元件已损坏。可控硅是可控硅整流元件的简称，是一种具有三个PN结的四层结构的大功率半导体器件。实际上，可控硅的功用不仅是整流，它还可以用作无触点开关以快速接通或切断电路，实现将直流电变成交流电的逆变，将一种频率的交流电变成另一种频率的交流电，等等。可控硅和其它半导体器件一样，其有体积小、效率高、稳定性好、工作可靠等优点。它的出现，使半导体技术从弱电领域进入了强电领域，成为工业、农业、交通运输、军事科研以至商业、民用电器等方面争相采用的元件。参考资料：百度百科可控硅

　　数字表测电容不大好测，要看被测电容的容量，容量太小的电容如果用指针表的欧姆档方法根本就看不到结果（电容内部短路除外），因为数字表不象指针表能那么直观的观察到数值变化。

　　一般测量可以用以下方法：

　　建议用指针表的欧姆档测量，电容容量越小则用越高的档，一般1uF以下用Rx10K，10uF以下用Rx1K，以此类推。用表笔接触电容的两个引脚，观察指针的摆动，如指针摆动过中心刻度后即往回摆动直至无穷大，过数秒至数分钟后再次测试（电容容量大则适当延长时间），如果指针摆动幅度没有第一次的幅度大或只有很少的摆动则可认为电容是好的。

　　如果手头上只有数字表，容量大点的电容（5uF以上）可以参考以上方法，观察数字由大变小可大致知道结果。不过现在一般数字表都有电容档可以很方便的测量。

　　如何使用万用表检测晶闸管好坏？

　　选择指针万用表R×100Ω或R×1KΩ档分别测量晶闸管的任两个极之间的正反向电阻，其中一极与其他两极之间的正反向电阻均为无穷大，则判定该极为阳极（A）。2、然后选择指针万用表的R×1Ω档。黑表笔接晶闸管的阳极（A），红表笔接晶闸管的其中一极假设为阴极（K），另一极为控制极（G）。3、黑表笔不要离开阳极（A）同时触击控制极（G），若万用表指针偏转并站住，则判定晶闸管的假设极性阴极（K）和控制极（G）是正确的，且该晶闸管元件为好的晶闸管。若万用表指针不偏转，颠倒晶闸管的假设极性再测量。若万用表指针偏转并站住，则晶闸管的第二次假设极性为正确的，该晶闸管为好的晶闸管。否则为坏的晶闸管。