CDM模式失效的条件是：1.当冷流速过高且壁面温度过低，可能出现附面重传导，此时导热模型失效，需要使用CDM模型；2.模拟过程中发现网格尺寸与特征长度之比较大时，需要增加网格密度以保证精度；3.当流动存在高速的剪切层，而网格尺寸不够小，此时需要增加网格密度或使用CDM模型，以保证剪切层边界的准确描述。总结起来，CDM模式在复杂流场中的适用性更高，但需要注意以上三个条件，以确保模拟结果的准确性和稳定性。

　　是：在暗物质开始聚集形成结构之后，晕轮内的热气体就会受到暗物质的引力作用而向中心集聚，形成中心浓度更高的区域，进而导致暗物质的密度分布与热气体的分布不同步，使得cdm模式所预言的暗物质大眾密度分布不再一致。可以简单地理解为暗物质与可观测物质的关系逐渐复杂化，使得cdm模式无法准确描述宇宙中物质的分布和演化。同时，新的观测数据和对宇宙结构演化的更深入研究，也会有可能导致cdm模式失效。

　　CDM失效模式已经逐渐成为一个突出的问题，原因在于：

　　第一，随着芯片工艺的进步，工作速度加快了，但芯片也变得脆弱了。

　　集成度的提高使得器件尺寸越来越小，器件之间的连线宽度越来越窄，钝化层越来越薄，这些因素都会时芯片对静电放电的敏感性也越大。

　　一个不太高的电压就能将晶体管击穿，一个微小的ESD电流就能将连线熔断，使得半导体器件失效，增加科研成本；

　　第二，通过测量CDM模式的静电放电波形，能够通过检查检测后的器件性能表现可以判断器件是否失效；

　　第三，通过分析放电波形的峰值、周期等参数对半导体器件性能是否失效进行分析，从而提出避免器件失效的预防措施。因此，提出基于CDM模式可以手动操作的静电放电的测试系统及方法十分必要。