扁平可控硅怎么测量好坏？

　　扁平可控硅的好坏通常可以通过测量其特定的电学性能参数来确定。具体来说，常用的测量方法包括静电特性测试、交流特性测试和直流特性测试。

　　在静电特性测试中，可通过测量器件的开启电压、保持电流和闭合速度等参数来评估其质量。

　　在交流特性测试中，可通过测量器件的反向关断电容和漏电流等指标来确定器件的稳定性和可靠性。

　　而在直流特性测试中，可通过测量器件的正向开启电压、电流和反向封锁特性等参数来评估其性能表现。通过这些测量方法可以评估出扁平可控硅是否具有良好的电学性能和可靠性。

　　扁平式晶闸管测量方法？

　　扁平式晶闸管是一种常用的功率电子元件，用于控制电流和电压。测量扁平式晶闸管的方法如下：

　　1. 准备工作：首先，确保测量环境安全，并断开电源。确定要测量的晶闸管类型和参数，并准备好必要的测量仪器，如万用表、示波器等。

　　2. 测试电路连接：将测试电路搭建起来。根据晶闸管的引脚定义将其正确连接到电路中。连接电源和负载电阻，确保电路正常工作。

　　3. 测量过程：按照以下步骤进行测量：

　　a. 静态特性测量：在静止状态下，通过万用表测量晶闸管的静态参数，如导通电压、关断电压、触发电流等。逐步改变控制信号或电源电压进行多组测量，以获取准确的数据。

　　b. 动态特性测量：使用示波器，观察晶闸管在不同载荷和控制信号下的工作情况。测量开启时间、关闭时间、导通电流波形等参数，并分析晶闸管在不同工作条件下的性能表现。

　　注意事项：

　　- 在测量过程中，请遵循安全操作规程，注意电路的功率和电压等级，避免触电和短路等危险情况。

　　- 根据晶闸管型号和数据手册提供的参数范围，选择适当的电源电压和控制信号，以确保测量的准确性。

　　- 在测量前检查电路连接是否正确，确保电路没有故障或损坏，以避免不必要的测量误差。

　　

　　以上为一般扁平式晶闸管测量方法的简要介绍，具体操作步骤可能因不同型号或特定测试需求而有所差异。在实际测量中，请参考晶闸管的数据手册和相关文献，并遵循正确的操作流程。

　　1.

　　

　　取晶闸管从数据表中查找引脚功能,确定极性。

　　2.

　　将数字万用表设置为电阻测试功能。

　　3.

　　将测试线连接到 A 和 K 引脚。

　　4.

　　测试 A 和 K 引脚,然后切换测试线并重新测试。 好的晶闸管将显示高电阻,单位为兆欧值,对于第一次和第二次测量,坏的晶闸管(短路)将显示 0 欧姆或低电阻 2 次。