半导体TC测试，又名高低温冲击试验。是半导体元器件元器件行业的测试设备。

　　半导体 TC测试，是在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害，用于考核器件在短期内反复承受温度变化（循环流动的空气）的能力及不同膨胀系数材料之间的热匹配性能。