运放芯片好坏测试？

　　判断集成运放块好坏的的方法：

　　1、通电一段时间后手摸集成运放块的温度，如温度大于50℃应怀疑其是否损坏。

　　2、若可能的话，测其直流电流，应在几毫安以内。否则就是损坏。

　　3、集成运放有单运放和几个运放组合在一起的，应熟悉它的电源及输入、输出脚。这也有一定规律可找及查找有关的手册即可知道。集成运放的输入脚之间电阻应比较大(一般大于10 M欧)，测量值小时应观察输入端有无限值的二极管，否则是损坏无疑。

　　4、在线测量输入电压应比较小。一般0.1 V以下。用手接触输入端，电压应会在输出端有变化，或用手接触反馈电阻二端(相当于并联一个电阻)，输出也会相应变化。

　　运放好坏测量方法？

　　运放好坏测量的方法：

　　1. 直接功率检查方法：用万用表测量电源电压和电流，以计算运放的直接功率消耗，然后与规格书上的参数进行比较。

　　2. 变化测试法：在运放的输入端加入可变信号并测量输出值，以调整输入信号大小进行测量，观察输出信号是否与输入信号有良好的线性关系。

　　3. 开环增益测试：通过将运放输入接地，可以测量其开环增益和输入偏置电压，并且检查它们是否在设定值范围内。

　　4. 失调电流测试法：通过将运放的一个输入接地，然后测量另一个输入上的电流，以评估设备的失调电流。

　　5. 共模抑制比测试法：将同一信号同时加到两个输入端口，然后测量输出信号，以计算共模抑制比。

　　这些方法可能需要使用电路测试设备（如万用表、示波器、信号发生器等），如果你不了解电路和测试仪器的使用，建议请专业人士来进行测试。